蔡司探头-ZEISS DotScan_探头-上海百贺仪器科技有限公司
蔡司探头-ZEISS DotScan

蔡司探头-ZEISS DotScan

ZEISS DotScan是测量自由曲面和细微结构的不二选择。ZEISS DotScan 采用色阶共聚焦白光探头,特别适用于测量敏感、柔软、具反射性或低对比度的表面,因为对于这类表面,探针或相机传感器已超过其能力所及。使用 ZEISS DotScan 时,具高反射性的表面如膝关节植入物的金属部件无须注入造影剂,即可进行扫描。因此,使用此探头也能区分透明上漆表层和其下方的金属层。
所属分类:探头

产品详情


用于采集自由曲面的光学式探头


ZEISS DotScan是测量自由曲面和细微结构的不二选择。ZEISS DotScan 采用色阶共聚焦白光探头,特别适用于测量敏感、柔软、具反射性或低对比度的表面,因为对于这类表面,探针或相机传感器已超过其能力所及。使用 ZEISS DotScan 时,具高反射性的表面如膝关节植入物的金属部件无须注入造影剂,即可进行扫描。因此,使用此探头也能区分透明上漆表层和其下方的金属层。

ZEISS DotScan

特点

ZEISS DotScan 是测量自由曲面和细微结构的不二选择。ZEISS DotScan 采用色阶共聚焦白光探头,特别适用于测量敏感、柔软、具反射性或低对比度的表面,因为对于这类表面,探针或相机传感器已超过其能力所及。

使用 ZEISS DotScan 时,具高反射性的表面如膝关节植入物的金属部件无须注入造影剂,即可进行扫描。因此,使用此探头也能区分透明上漆表层和其下方的金属层。

用途多样灵活

ZEISS DotScan 共有三种探头尺寸,适用于三种不同的测量范围:10、3 和 1 mm。探头可在一次 CNC 运行期间全自动更换,以适用于不同的表面,或改换其他光学探头。

关节轴每次可移动 2.5 度,可将 ZEISS DotScan 调整到垂直于待测量部件。且由于 ZEISS DotScan 1 mm 的测量角度是 +/- 30 度,因此更大曲率的部件也能测量。再加上探针的操作模式,使得各种材料都能毫无问题地从各种角度进行测量。配合使用转台,甚至连 4 轴的测量工作也难不倒 ZEISS DotScan。