用 用于采集自由曲面的光学式探头

ZEISS DotScan是测量自由曲面和细微结构的不二选择。ZEISS DotScan 采用色阶共聚焦白光探头，特别适用于测量敏感、柔软、具反射性或低对比度的表面，因为对于这类表面，探针或相机传感器已超过其能力所及。使用 ZEISS DotScan 时，具高反射性的表面如膝关节植入物的金属部件无须注入造影剂，即可进行扫描。因此，使用此探头也能区分透明上漆表层和其下方的金属层。

ZEISS DotScan

特点

ZEISS DotScan 是测量自由曲面和细微结构的不二选择。ZEISS DotScan 采用色阶共聚焦白光探头，特别适用于测量敏感、柔软、具反射性或低对比度的表面，因为对于这类表面，探针或相机传感器已超过其能力所及。

使用 ZEISS DotScan 时，具高反射性的表面如膝关节植入物的金属部件无须注入造影剂，即可进行扫描。因此，使用此探头也能区分透明上漆表层和其下方的金属层。

用途多样灵活

ZEISS DotScan 共有三种探头尺寸,适用于三种不同的测量范围：10、3 和 1 mm。探头可在一次 CNC 运行期间全自动更换，以适用于不同的表面，或改换其他光学探头。

关节轴每次可移动 2.5 度，可将 ZEISS DotScan 调整到垂直于待测量部件。且由于 ZEISS DotScan 1 mm 的测量角度是 +/- 30 度，因此更大曲率的部件也能测量。再加上探针的操作模式，使得各种材料都能毫无问题地从各种角度进行测量。配合使用转台，甚至连 4 轴的测量工作也难不倒 ZEISS DotScan。